集成低溫冷卻系統(tǒng)選件（-ICS、-ICS-E）
集成低溫冷卻系統(tǒng)（ICS）低溫恒溫器配備有低溫冷卻器，不受不回溫循環(huán)的影響。與使用標(biāo)準(zhǔn)型低溫恒溫器探測(cè)器的典型三天損失不同，ICS可以立即重新冷卻，限度地減少因回溫而損失的任何時(shí)間。ICS可配備內(nèi)部前置放大器（-ICS）或外部前置放大器（-ICS-E）。
適用于-ICS的兼容探測(cè)器類型：GEM
適用于-ICS-E的兼容探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、GMX

集成低溫冷卻低本底系統(tǒng)（-ICS-LB）
低本底探測(cè)器配有內(nèi)置前置放大器、高純鋁端蓋、高純鋁窗、高純鋁內(nèi)杯，以及用于ICS集成低溫冷卻系統(tǒng)的低本底銅安裝座。較低的本底材料可在特定計(jì)數(shù)時(shí)間內(nèi)降低最小可探測(cè)活度（MDA），這為在低本底應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。
兼容的探測(cè)器類型：GEM

SMART-1選件 (-SMP、-SMN)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報(bào)告重要的系統(tǒng)功能，還可保存驗(yàn)證碼并在稍后報(bào)告該驗(yàn)證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅(jiān)固的ABS模塑塑料外殼，并通過(guò)模塑應(yīng)變消除密封電纜牢牢地固定在探測(cè)器端蓋上。這可避免探測(cè)器因水泄漏到高壓連接器中而受到嚴(yán)重?fù)p壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會(huì)干擾屏蔽或其他安裝硬件。
適用于-SMP的兼容探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、安全保障GEM、Actinide-85
適用于-SMN的兼容探測(cè)器類型：GMX、GLP、安全保障GLP

超高計(jì)數(shù)率前置放大器選件（-PL）

超高計(jì)數(shù)率前置放大器（晶體管復(fù)位前置放大器）可在1 MeV下處理高達(dá)1,000,000個(gè)計(jì)數(shù)/秒的輸入計(jì)數(shù)率，并具有無(wú)反饋電阻的額外優(yōu)勢(shì)。 兼容的探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、GMX

惡劣環(huán)境選件（-HE）
惡劣環(huán)境選件是一個(gè)堅(jiān)固的碳纖維端蓋，配有密封的電子設(shè)備外殼，并帶有可更換的干燥劑包，用以確保電子設(shè)備保持100％干燥并指示何時(shí)需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設(shè)計(jì)中的GEM系列探測(cè)器可配備此選件。
兼容的探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、GMX

遠(yuǎn)程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體“視線”移出。對(duì)于低本底應(yīng)用，此選件消除了可能增加屏蔽內(nèi)部本底的任何可能的前置放大器或高壓濾波器組件。
兼容的探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、GMX、GWL

低本底碳纖維端蓋選件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅(jiān)固，產(chǎn)生的本底少，不腐蝕，并且可以檢測(cè)低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計(jì)數(shù)時(shí)間內(nèi)降低最小可探測(cè)活度（MDA），這為在低本底計(jì)數(shù)應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的較低Z可提供低能量窗口，而不會(huì)產(chǎn)生在大多數(shù)合金中發(fā)現(xiàn)的額外本底。
兼容的探測(cè)器類型：GEM、PROFILE、GMX

鈹窗選件（-B）
提高了3至5 keV之間的性能。
兼容的探測(cè)器類型：PROFILE

鋁窗選件（-A）
如果感興趣的能量超過(guò)20 keV，則可以選擇全鋁端蓋。
兼容的探測(cè)器類型：GMX

碳纖維窗選件（-CW）
碳纖維窗口可用于大于約8 keV的能量。雖然這個(gè)窗口不能通過(guò)所有較低的能量，但碳纖維的Z比Al低，并且不存在任何與Be相關(guān)的危險(xiǎn)。
兼容的探測(cè)器類型：GMX

低本底井（-LB-AWT和-XLB-AWT）
低本底井型探測(cè)器配有無(wú)氧高電導(dǎo)率（OFHC）銅端蓋，帶有0.02英寸壁厚的低本底高純度鋁井管。
兼容的探測(cè)器類型：GWL