上海納優(yōu) 低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測模體

產(chǎn)品型號(hào)：NY-103
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2026-02-08
訪問量：1954

簡要描述：NY-103低對(duì)比度檢測模體

產(chǎn)品簡介

NY-103低對(duì)比度檢測模體

1.滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范》

2.低對(duì)比度檢測模體用于檢測X光機(jī)和透視機(jī)的低對(duì)比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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產(chǎn)品詳情

NY-103低對(duì)比度檢測模體

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NY-103低對(duì)比度檢測模體

滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范》

2.低對(duì)比度檢測模體用于檢測X光機(jī)和透視機(jī)的低對(duì)比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范》

2.低對(duì)比度檢測模體用于檢測X光機(jī)和透視機(jī)的低對(duì)比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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